當(dāng)前位置:北京富爾邦科技發(fā)展有限責(zé)任公司>>光譜儀器>>激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)>> 美國ASI J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)
一,、簡介
Russo博士于2004年創(chuàng)建了美國應(yīng)用光譜(Applied Spectra,ASI)公司,, ASI公司是一家專門研究激光剝蝕及光譜分析技術(shù)的高科技公司,,研發(fā)人員均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室(Lawrence Berkeley National Laboratory)的科研人員。美國勞倫斯伯克利國家實驗室具有80多年LIBS技術(shù)的研究經(jīng)驗,,致力于激光誘導(dǎo)等離子體光譜和剝蝕技術(shù)在化學(xué)分析領(lǐng)域的應(yīng)用和開發(fā),。
美國ASI J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)是一種用于化學(xué)多元素定性和定量分析的原子發(fā)射光譜,廣泛應(yīng)用于刑偵,、材料,、地礦、考古,、能源,、環(huán)境、生態(tài),、農(nóng)業(yè)等對各領(lǐng)域,。可用于固態(tài),,液態(tài),,氣態(tài)等樣品的檢測分析。
二,、美國ASI J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)技術(shù)優(yōu)勢
- Q開關(guān),,短脈沖Nd:YAG激光器,,擁有各種不同波長、不同能量的飛秒或納秒激光器,,可根據(jù)您的實際應(yīng)用需求進(jìn)行選購,;
- 創(chuàng)新的模塊化系統(tǒng)為獨立的LA,LIBS,,或LA – LIBS復(fù)合系統(tǒng)的配置設(shè)計,;
- 滿足不同分析要求的三種LIBS檢測器選項,LIBS可配置雙檢測器,;
- 系統(tǒng)傳感器,,確保激光剝蝕一致性:
- 高度自動調(diào)整技術(shù)
- 激光能量穩(wěn)定快門
- 雙攝像機(jī),一個于高倍成像,,另一個用于樣品表面的廣角觀察,;
- 應(yīng)用光譜Flex樣品室?guī)в锌苫Q鑲嵌模塊,以優(yōu)化運輸氣體流量和顆粒沖刷性能,;
- 緊湊型微集氣管設(shè)計,,以消除脫氣和記憶效應(yīng);
- 雙路高精度數(shù)字質(zhì)量流量控制器和電子控制閥門,;
- 系統(tǒng)軟件:
- 硬件部件的全面控制與測量自動化
- 多功能取樣方法:全分析,、微區(qū)&夾雜物分析,深度分析和元素成像
- 用于LIBS和LA-ICP-MS分析的強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析模塊
- 用于判別和分類分析的LIBS化學(xué)計量軟件
- 維護(hù)成本低,;
- 升級為LA-LIBS復(fù)合系統(tǒng)簡單,;
- 可升級為飛秒激光剝蝕。
三,、硬件特點
針對雙重LA/LIBS性能而設(shè)計的緊湊,、模塊化系統(tǒng)
主體包括激光源、激光束傳輸光學(xué)器件,、Flex樣品室,、氣體流量控制系統(tǒng)以及LIBS檢測器。
自動調(diào)整樣品高度,,保證激光剝蝕的一致性
考慮到樣品表面的形態(tài)變化,,采用自動調(diào)高傳感器??杀3志_的激光聚焦,,在所有采樣點上提供相同的激光能量,并在所有采樣點上實現(xiàn)一致的激光剝蝕,。
具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室,,以優(yōu)化氣流和微粒沖洗性能
根據(jù)測量目的(主要成分分析、包裹體分析,、高分辨率深度分析,、元素成像等),,有必要對樣品室的各個性能指標(biāo)進(jìn)行優(yōu)化,指標(biāo)包括:沖洗時間,、顆?;旌稀悠肥覂?nèi)的流動特性,。Flex樣品室的設(shè)計能夠容納直徑為4英寸的樣品,,使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來調(diào)節(jié)氣流條件(層流和紊流)和微粒沖洗時間。此外,,F(xiàn)lex樣品室的設(shè)計是為等離子體光提供一個好的視角,,從而保證在激光剝蝕過程中進(jìn)行靈敏的LIBS檢測。
創(chuàng)新集氣管設(shè)計
采用先進(jìn)的集氣管設(shè)計,,大限度地減少了脫氣,,防止了任何燒蝕顆粒的堆積,并消除記憶效應(yīng),。容易組裝,便于定期清潔輸氣管道,。
高精度氣體流量控制系統(tǒng)
氣體控制系統(tǒng)使用兩個高精度,、數(shù)字化質(zhì)量流量控制器(MFC)和電子控制閥,用于氬氣,、氦氣及補(bǔ)充氣體的輸送,,并精確控制氣流,防止等離子體火焰熄滅,。預(yù)設(shè)配置可以選擇輸送氬氣,、氦氣或補(bǔ)充氣體。
氣體流量控制系統(tǒng)
通過雙攝像頭和先進(jìn)照明實現(xiàn)樣品可視化
擁有先進(jìn)照明系統(tǒng)和高倍光學(xué)變焦(高達(dá)60X)功能,,清晰呈現(xiàn)樣品的表面細(xì)節(jié),。配備雙高分辨率CMOS成像攝像機(jī),提供廣角視野和高倍成像,,以精確地研究精細(xì)區(qū)域(見下圖),。廣角視野視圖可以保存,并用于定位不同的樣品位置,,使用高倍鏡研究樣品,。
具有三種獨立的照明模式,提高圖像質(zhì)量和對比度:擴(kuò)散式LED光源,,透射光和同軸反射光,光的強(qiáng)度和顏色可控,。
清晰、高倍放大的樣品表面圖像
同軸光線不同顏色和強(qiáng)度下的樣本圖像對比
三種LIBS檢測器可選,,擴(kuò)展了儀器功能
三種不同LIBS檢測器可選:(1)帶有ICCD攝像機(jī)的掃描Czerny Turner光譜儀,;(2) 配備ICCD攝像機(jī)的中階梯光柵光譜儀,;(3)同步六通道CCD光譜儀。做為獨立的LIBS儀器系統(tǒng),,可同時配備任意兩種檢測器,。雙檢測器開辟了新的LIBS檢測功能。